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為什么選擇 X-MET 手持式 XRF 光譜儀
性能
X-MET提供輕元素 （鎂、鋁、硅、磷、硫、氯）分析，檢測限度低，且可每天提供準確可靠結(jié)果。
通過靈活的基本參數(shù)法(FP)法進行分析，從而測試多種材料；或若需結(jié)果可追溯和高度準確，則使用實證校準。
操作簡單
大觸摸屏和基于圖標的用戶界面，使用戶只需要極少的培訓便可開始操作。
符合人體工學
X-MET輕便（僅1.5公斤）、簡潔、平衡性好，可供長時間使用，而疲勞度低。
堅固耐用而擁有成本低
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符合IP54要求（等同于NEMA 3）、防水、防塵的X-MET可供室內(nèi)外使用。
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通過MIL-STD-810G 耐用標準測試。
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其可選的防扎窗口膜可預防在粗糙表面上測量導致探測器損壞而出現(xiàn)的高昂維修費用。
高級數(shù)據(jù)管理
*靈活：可將多達100,000條結(jié)果保存在X-MET上，將報告輸出到U盤或個人計算機，或自動將X-MET數(shù)據(jù)存儲在LiveData云端。
手持式 XRF 光譜儀應用
| X-MET8000 | X-MET8000 | X-MET8000 | |
| 廢金屬回收 | ? | ? | ? |
| 材料可靠性鑒定(PMI)檢查 | ? | ? | |
| 制造與 PMI QA/QC | ? | ? | ? |
| 貴金屬 | ? | ? | ? |
| 監(jiān)管機構(gòu)合規(guī)篩查 （消費品、包裝、原材料…） | ? | ? | |
| 環(huán)境土壤篩查 | ? X-MET8000 Optimum Geo | ? X-MET8000 Expert Geo | |
| 礦石和礦物 | ? X-MET8000 Optimum Geo | ? X-MET8000 Expert Geo | |
| 金屬鍍層厚度測量 | ? | ? | ? X-MET8000 Expert / Expert CG |
| 科技考古 | ? | ? X-MET8000 Expert / Expert CG / Expert Geo |
手持式XRF光譜儀應用于QA/QC
應用于材料可靠性鑒定
應用于廢舊金屬回收
應用于采礦
應用于土壤重金屬檢測
應用于合規(guī)性檢測
應用于鍍層測厚
應用于考古
應用于貴金屬和珠寶檢測
比較型號
X-MET8000 Smart
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X射線管：40kV
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濾光片：單一
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檢測器：大面積 SDD
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高樣本溫度：400ºC
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符合 IP54 等級
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Thick Kapton®窗口：保護以預防探測器的窗戶損壞
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校準：基本參數(shù)法(FP)
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內(nèi)置攝像頭 （可選）
X-MET8000 Optimum
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X射線管：40kV or 50kV
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濾光片：6位濾光轉(zhuǎn)換器
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檢測器：大面積 SDD
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高樣本溫度：100ºC 或通過 HERO™ 耐熱窗戶400ºC（可選)
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符合 IP54 等級
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可選窗口防護罩：預防檢測器的窗口損壞進行保護
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校準：基本參數(shù)法 （包括輕元素分析）
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內(nèi)置攝像頭（可選）
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小光班準直器（可選）
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針對所有元素（從鎂到鈾）進行優(yōu)先分析的六位濾光片
X-MET8000 Expert
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X射線管：50kV
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濾光片：6位濾光轉(zhuǎn)換器
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檢測器：大面積 SDD
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高樣本溫度：100ºC 或通過 HERO™ 耐熱窗戶400ºC（可選)
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符合 IP54 等級
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可選窗口防護罩：預防檢測器的窗口損壞進行保護
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校準方法：自動跳轉(zhuǎn)的經(jīng)驗系數(shù)法（可進行追溯）
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內(nèi)置攝像頭
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小光班準直器 （可選)
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針對所有元素，從鎂到鈾，的優(yōu)先分析的六位濾光片
