懸浮粒子可視化系統：打破微觀檢測壁壘，賦能行業品質升級

懸浮粒子可視化系統：打破微觀檢測壁壘，賦能行業品質升級

在半導體制造、光學元件生產、新材料研發這些對精度要求的領域里，微小粒子的存在就像 “隱形"—— 能不能精準找到它們、分析清楚，直接決定了產品質量能不能達標，研發工作能不能推進。以前用傳統方法檢測，zd的麻煩就是看不見亞微米級的懸浮粒子，只能靠數據推測，沒法直觀看到粒子的真實樣子，這成了行業提高效率、提升品質的大難題。

多場景微粒子可視化解決方案：精準捕捉微觀世界，賦能全領域品質管控

針對半導體、光學、材料研發等領域的粒子檢測痛點，我們打造覆蓋全粒徑范圍的多場景可視化解決方案，以三款核心系統+專業配套軟硬件，實現從亞微米到粗大粒子的精準捕捉與深度分析，適配不同應用場景的核心需求。

亞微米可視化插入系統 CVS-亞微米 (≤0.1µ)

無需激光照射，憑借光學設計，光源單獨運行即可實現亞微米異物的直接目視觀察。搭圖像處理技術，為肉眼不可見的微小粒子補充清晰成像，打破傳統檢測的視覺局限。系統出射與成像部件采用輕薄化設計，可直接集成至設備內部，安裝靈活不占用額外空間。

 粒子可視化激光系統 CVS激光 (≤0.1µ)

搭載4級激光器，聚焦極微小異物檢測，實際應用中已實現100納米級粒子的清晰成像。采用直線性設計，減少雜散光干擾，搭配窄波長帶光源與帶通濾光片，大幅降低環境光影響，確保超小粒徑粒子的精準可視化。

 粗大粒子可視化系統 CVS-LED

通過特殊聚焦技術，讓易擴散的LED光保持優異直行性，配合強大圖像處理能力，不僅能精準識別纖維碎片，更可直觀呈現樹脂、金屬等各類粗大異物。產品具備高性價比優勢，價格更具市場競爭力，且支持通過增加光源拓展可視化范圍，適配多樣化檢測場景。

 北京歐屹科技有限公司代理的三款系統搭配起來，再加上專業的配套軟硬件，從亞微米到粗大粒子，全粒徑范圍的檢測需求都能滿足。而把這套好用的系統帶給國內企業的，正是我們歐屹科技。作為該懸浮粒子可視化系統的代理方，我們一直想著把優質的檢測技術和產品引進來，幫國內行業打破檢測瓶頸。不管是半導體、光學還是材料研發領域，只要有粒子檢測的需求，我們都能靠這套系統，為企業提供靠譜的解決方案，助力大家在品質升級和技術創新上走得更穩、更遠。

  歡迎隨時與北京歐屹科技有限公司聯系咨詢，我們將為您提供專業、全面的技術支持與服務。