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應力雙折射測量系統參考價：1000
應力雙折射測量系統WPA系列可測量相位差高達3500nm，適合PC高分子材料，是Photonic lattice公司以其光子晶體制造技術開發的產品，的測量技術使...
型號： WPA-200 廠商性質：代理商所在地：北京市對比

雙折射測量儀應力雙折射儀應力雙折射測量儀應力分布測量儀偏光應力儀

2026/1/16 16:36:427274
球坑測厚儀參考價：1000
球坑測厚儀的特點是采用優質機械加工部件和傻瓜化的操作，使得設備特別適合于要求快速測量硬質層的厚度。球坑法是一種簡易實用的鍍層厚度測試方法，主要用于硬質膜、固體潤...
型號： BCT 1000 廠商性質：代理商所在地：北京市對比

球坑測厚儀薄膜測厚儀球坑儀硬質涂層測量儀

2026/1/13 11:23:499673
玻璃應力雙折射測量系統參考價：1000
玻璃應力雙折射測量系統PA系列分布測量儀:理想的光學玻璃是各向同性的，但在退火過程中由于玻璃內外溫度不同，或者退火爐內各處溫度不等都會產生內應力。光學玻璃內應力...
型號： PA系列廠商性質：代理商所在地：北京市對比

玻璃應力分布手機面板雙折射測量儀玻璃相位差測量偏光應力儀內應力測量儀

2026/1/16 16:31:184821
玻璃應力雙折檢測系統參考價：1000
玻璃應力雙折檢測系統PA300和PA300-L是Photonic lattic公司以其Lxian世界的光子晶體制造技術開發的產品，高精度的測量技術，高速而又的測...
型號： PA300 廠商性質：代理商所在地：北京市對比

應力儀偏光測量儀內應力測量儀偏光應力儀雙折射測量

2026/1/20 9:11:354593
偏振相機參考價：1000
PI/WPI偏振相機能夠獲得實時的偏振信息，作為一個正常的圖像，并在高分辨率。它們被應用在許多領域，包括利用偏振特征識別暗物體，激光光束的實時偏振監測等。除了P...
型號： PI-300/WP... 廠商性質：代理商所在地：北京市對比

偏振成像偏振相機

2026/1/13 11:42:068182
無掩膜光刻機參考價：50000
無掩膜光刻機UTA系列是將DLP投影儀盒金相顯微鏡相結合的縮小投影型無掩模曝光系統，其傳統系統（用于掩膜光刻的圖案投影曝光系統）可以使用專門為此目的開發的軟件來...
型號： UTA-IA 廠商性質：代理商所在地：北京市對比

顯微鏡LED曝光機LED光刻機無掩膜光刻機無掩模led曝光機UTA 無掩模光刻系統

2026/1/14 13:55:045751
白光共聚焦顯微鏡參考價：50000
Lasertec激光+白光共聚焦顯微鏡以雙共聚焦光學系為基礎，搭載微分干涉觀察，垂直白光干涉測定，相差干涉測定，反射分光膜厚測定等功能，通常多臺設備才能完成的測...
型號： HYBRID 廠商性質：代理商所在地：北京市對比

激光共聚焦顯微鏡亞微米級膜厚檢測激光共聚焦顯微鏡lasertec共聚焦顯微鏡白光共聚焦顯微鏡

2026/1/13 11:34:016656
玻璃內應力測量儀參考價：1000
玻璃內應力測量儀是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米...
型號： PA-300-L 廠商性質：代理商所在地：北京市對比

相位差雙折射測量內應力測量內應力測量儀偏光應力儀

2026/1/16 16:14:262835
亞微米級懸浮粒子可視化檢測系統參考價：20000
CVS-S作為一款亞微米級懸浮粒子可視化檢測系統，借助非激光光源與高靈敏度相機的協同配合，能夠對生產環境中的微小異物進行非接觸式實時監測。該系統成功tianbu...
型號： CVS-S 廠商性質：代理商所在地：北京市對比

亞微米級懸浮粒子可視化檢測系統亞微米級塵埃粒子可視化檢測系統亞微米級檢測系統可視化檢測系統微粒子可視化系統

2026/1/14 13:56:31123
PHL 應力雙折射檢測儀PA系列參考價：1000
PHL 應力雙折射檢測儀PA系列由日本Photonic lattice公司開發，具備高精度和快速測量的特點。該設備采用光子晶體偏光陣列片和獨特的雙折射算法，能...
型號： PA-300 廠商性質：代理商所在地：北京市對比

應力儀偏光測量儀內應力測量儀偏光應力儀雙折射測量儀

2026/1/16 16:11:43123

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