鍍層測(cè)厚儀XRF-2020功能應(yīng)用及原理

 

X射線或粒子射線經(jīng)物質(zhì)照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測(cè)量?jī)x或成分分析儀的原理就是測(cè)量這被釋放出來的熒光的能量及強(qiáng)度，來進(jìn)行定性和定量分析

 

 

應(yīng)用實(shí)例圖示

（1）單鍍層：Ag/xx		（2）合金鍍層：Sn-Pb/xx		（3）雙鍍層：Au/Ni/xx
Ag		Sn-Pb		Au
底材		底材		Ni
				底材
（4）合金鍍層：Sn-Bi/xx		（5）三鍍層：Au/Pd/Ni/xx		（6）化學(xué)鍍層：Ni-P/xx
Sn-Bi		Au		Ni-P
底材		Pd		底材
		Ni
		底材

（1）單鍍層：Ag/xx		（2）合金鍍層：Sn-Pb/xx		（3）雙鍍層：Au/Ni/xx
Ag		Sn-Pb		Au
底材		底材		Ni
				底材
（4）合金鍍層：Sn-Bi/xx		（5）三鍍層：Au/Pd/Ni/xx		（6）化學(xué)鍍層：Ni-P/xx
Sn-Bi		Au		Ni-P
底材		Pd		底材
		Ni
		底材

 

鍍層測(cè)厚儀XRF-2020功能應(yīng)用及原理

規(guī)格型號(hào)如下圖所示

 

三款規(guī)格型號(hào)如下圖所示

 

 

鍍層測(cè)厚儀MicroP XRF-2020

 

儀器整機(jī)*，配置全自動(dòng)臺(tái)面，自動(dòng)雷射對(duì)焦,多實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量

 

 

功能及應(yīng)用：

測(cè)量：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳，鍍鋅鎳合金

可測(cè)單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層，不限底材。