臺式掃描電鏡 參考價：面議
澤攸科技ZEM18系列臺式掃描電鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創(chuàng)新的技術(shù)設(shè)計、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業(yè)領(lǐng)域微觀分析的重要工具。該系...
半自動臺階儀 參考價：面議
澤攸科技JS系列半自動臺階儀作為國產(chǎn)高精度表面測量設(shè)備的代表，憑借其創(chuàng)新的技術(shù)架構(gòu)、靈活的應(yīng)用場景及可靠的測量性能，在半導(dǎo)體制造、材料科學(xué)、微納技術(shù)等領(lǐng)域展現(xiàn)了...
低溫液氮探針臺 參考價：面議
低溫液氮探針臺是一種先進的科研設(shè)備，專門用于在低溫環(huán)境下對半導(dǎo)體器件、微納材料以及電子元件進行高精度的電學(xué)性能測試。它通過液氮制冷系統(tǒng)為樣品提供超低溫環(huán)境，確保...
原位加熱/電學(xué)樣品桿 參考價：面議
PicoFemto系列透射電鏡原位加熱/電學(xué)樣品桿，基于MEMS原位芯片技術(shù)，通過更換多種類型的加熱芯片或電學(xué)芯片，在透射電鏡中實現(xiàn)對樣品加熱或加電的原位功能。
原位力學(xué)樣品桿 參考價：面議
PicoFemto系列透射電鏡原位力學(xué)樣品桿，基于TEM-STM樣品桿技術(shù)，集成力測量功能，對樣品進行壓縮/拉伸過程可實時輸出力-位移曲線，支持力-電同時測量。
原位多場耦合樣品桿 參考價：面議
PicoFemto系列透射電鏡原位多場耦合樣品桿，結(jié)合TEM+STM+MEMS原位技術(shù)，通過更換不同類型的原位芯片及探針，在透射電鏡中實現(xiàn)光、電、力、熱多種原位...
加熱拉伸臺 參考價：面議
PicoFemto系列掃描電子顯微鏡加熱拉伸臺是動態(tài)觀察和分析材料微觀變形形貌及斷裂的重要工具。
納米力學(xué)臺 參考價：面議
PicoFemto系列掃描電子顯微鏡納米力學(xué)臺是動態(tài)觀察和分析納米材料力學(xué)行為的重要工具。
納米探針臺 參考價：面議
SEM納米探針臺由澤攸科技研發(fā)，是一款具有高性能的科研設(shè)備，特別適用于需要高精度三維空間定位的研究領(lǐng)域。這款探針臺不僅具備小尺寸大行程、高精度以及易操作等優(yōu)點，...
原位加熱臺 參考價：面議
PicoFemto系列掃描電子顯微鏡原位加熱臺基于MEMS加熱芯片技術(shù)，溫度范圍：室溫至1200攝氏度。
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