菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL240核心測量原理與設計
采用自上而下的 XRF 測量方式；通過鎢靶 X 射線管激發樣品，比例計數管接收特征熒光，結合WinFTM®軟件與DCM 距離補償技術，可在 0–80mm 距離下穩定測量，無需反復調焦；最多解析 25 層復合鍍層，元素覆蓋 Ti (22) 至 U (92)。
配備電動 XY 工作臺（開門自動移出至裝載位）+可編程 Z 軸（行程 140mm）；集成帶十字線與變焦的視頻顯微鏡、一級激光定位，方便精準找點。
C 型槽防護罩可測大型扁平樣品（如大 PCB 板）；整機符合輻射安全標準并帶聯鎖保護。
關鍵技術參數
射線源與探測器：鎢靶 X 射線管（鈹窗），30/40/50kV 三檔高壓；標準準直器 0.3mm，可選 0.1/0.2mm 或狹縫型；最小測量光斑約 0.2mm；比例計數管探測器。
工作臺：XY 行程 255×235mm，移動速度 80mm/s，重復定位精度 0.01mm；樣品高度 140mm，承重可選 5kg/20kg；可用臺面 300×350mm。
環境與電氣：工作溫度 10–40°C，濕度≤95%（無凝露）；AC 115/230V，50/60Hz，功耗≤120W（不含電腦）；整機重量約 120kg。
性能：金層 60 秒測量重復性優于 1%；符合 DIN ISO 3497、ASTM B568 標準。
