2025深圳展圓滿收官！多元展區成果豐碩，電子半導體科技新潮流2025年4月11日，第十三屆中國電子信息博覽會攜手2025中國半導體產業與應用博覽會展于4月11日在深圳圓滿收官。近60,000平米的展
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2026ˉ2【02材料表征核心技術】之GD-MS技術：ppt級雜質精準檢測方法
副標題：構建高純材料分析實驗室的關鍵要素解析發布信息發布日期：2025年07月25日作者：森德儀器/應用技術部儀器類別：分析儀器閱讀時間：約15分鐘關鍵詞：GD-MS、輝光放電質譜、ppt級檢測、高純材料、雜質分析、實驗室基礎設施、森德儀器摘要實現材料中ppt4
2026ˉ2【02材料表征核心技術】之晶圓污染物：從顆粒到分子級檢測技術
副標題：結合Nicolet™iS20FTIR光譜儀實現污染物分子級溯源與過程控制閉環發布信息發布日期：2025年07月20日作者：森德儀器/應用技術部儀器類別：分析儀器閱讀時間：約12分鐘關鍵詞：晶圓污染物、分子級檢測、FTIR光譜儀、失效分析、過2
2026ˉ2【04缺陷檢測與失效分析】之X射線檢測：2D/3D封裝分析系統
基于蔡司Xradia515Versa的高分辨率三維無損檢測技術解析發布信息發布日期：2023年11月15日作者：森德儀器/應用技術部儀器類別：分析儀器閱讀時間：約8分鐘關鍵詞：X射線檢測、缺陷檢測、失效分析、2D封裝、3D封裝、X射線顯微鏡、亞微米成像、無損檢2
2026ˉ2【04缺陷檢測與失效分析】之熱光發射顯微：熱點漏電定位解決方案
副標題：ThermoScientific™ELITE系統在半導體失效分析中的高精度熱成像應用發布信息發布日期：2025年7月31日作者：森德儀器/應用技術部儀器類別：分析儀器、檢測設備閱讀時間：約8分鐘關鍵詞：鎖相紅外熱成像、LIT、熱光發射顯微、2
2026ˉ2【04缺陷檢測與失效分析】之FIB關鍵應用：電路修復與樣品制備技術
副標題：聚焦離子束技術的雙重角色：從納尺度精確修復到高質量分析樣品制備發布日期：2023年11月7日作者：森德儀器/應用技術部儀器類別：分析儀器/顯微加工設備閱讀時間：約12分鐘關鍵詞：聚焦離子束、電路修復、樣品制備、TEM制樣、FIB-SEM、微納加工、失效30
2026ˉ1【04缺陷檢測與失效分析】之失效分析流程：現象到根因系統方法
副標題：構建從宏觀現象到微觀機理的完整分析鏈條與儀器解決方案發布日期：2026年1月30日作者：森德儀器/應用技術部儀器類別：分析儀器/檢測設備閱讀時間：約15分鐘關鍵詞：失效分析、根因分析、檢測流程、儀器配置、缺陷定位、森德儀器摘要失效分析是保障產品質量、提30
2026ˉ1【04缺陷檢測與失效分析】之電子束檢測：高分辨率EBR技術原理與應
副標題：基于蔡司GeminiSEM360場發射掃描電鏡的高分辨率缺陷成像與分析技術深度解析發布日期：2026年1月30日作者：森德儀器/應用技術部儀器類別：分析儀器/顯微成像設備閱讀時間：約10分鐘關鍵詞：電子束檢測、高分辨率成像、場發射掃描電鏡、缺陷檢測、失COMPANY PROFILE
廣東森德儀器有限公司，作為一家廣東省的實驗室一站式整體解決方案服務提供商， 提供實驗室前期規劃咨詢、實驗室分析儀器銷售、儀器維修、試劑耗材年度采購 、產品調研等服務，銷售的科學儀器涉及實驗室基礎儀器、生物制藥、材料表征、理化分析、 物性檢測、光學儀器、生命科學、樣品前處理等領域。長期持續地為客戶提供專業的選型意見， 解決客戶業務開展面臨的分析和檢測方面的問題和挑戰。行業覆蓋高等院校，科研單位，政府機構、 制藥，材料、化工，食品，化妝品，電子，汽車，油漆，電池、環境、第三方檢測等。 森德儀器致力于為客戶提供高質量、高性價比的產品和服務。 成就客戶是我們的初衷，和客戶一起成長是我們愿望。
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