在納米科技蓬勃發(fā)展的當(dāng)下，對納米顆粒粒度的精準(zhǔn)測量成為眾多科研與工業(yè)領(lǐng)域的關(guān)鍵需求。布魯克的納米粒度儀憑借其杰出性能，成為這一領(lǐng)域的杰出者，為納米研究與應(yīng)用提供了堅(jiān)實(shí)支撐。

　　1.多角度測量，突破局限

　　納米粒度儀突破傳統(tǒng)單角度測量的局限，以多角度動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)為核心。以NanoBrook 173Plus為例，它結(jié)合13°、90°與173°三個(gè)散射角度，能同時(shí)兼顧大、小顆粒的散射光信號(hào)。這種獨(dú)特設(shè)計(jì)，有效提高了測量濃度上限，可達(dá)40%wt，可滿足高濃度樣品的測量需求，為復(fù)雜體系的粒度分析提供了可能。

　　2.高精度與高靈敏度

　　該儀器具備較高的精度和靈敏度。其典型精度≤1%，能夠精確捕捉納米級(jí)顆粒的細(xì)微差異。在探測器方面，采用專業(yè)級(jí)高性能光電倍增管（PMT）或雪崩光電二極管（APD），對光子信號(hào)具有加高的靈敏度和信噪比，確保了測試結(jié)果的準(zhǔn)確度。無論是極稀膠體溶液還是高濃度樣品，都能實(shí)現(xiàn)可靠測量。

　　3.廣泛測量范圍與強(qiáng)大功能

　　該儀器的測量范圍廣泛，粒度測量范圍可達(dá)0.3nm - 15μm，能適應(yīng)不同類型和尺寸的納米顆粒測量。同時(shí)，它還具備強(qiáng)大的功能擴(kuò)展性，可搭配自動(dòng)稀釋系統(tǒng)、微流變選件、Zeta電位升級(jí)模塊等。以Zeta電位測量為例，采用硬件相位分析光散射（PALS）技術(shù)，靈敏度提高1000倍，適用于低介電常數(shù)、高粘度、高鹽度以及等電點(diǎn)附近的樣品測量，可全面表征顆粒表面的帶電特征，評(píng)估分散體系的穩(wěn)定性。

　　4.便捷操作與智能分析

　　儀器操作簡便，配備專業(yè)的數(shù)據(jù)處理軟件，具有強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析功能。可自動(dòng)研究粒度隨時(shí)間、溫度以及其他參數(shù)變化的趨勢分析，還能提供多種數(shù)學(xué)模型，如Gaussian分布算法和單獨(dú)的多峰算法，可區(qū)分粒徑比1:2物質(zhì)，為用戶提供全面、深入的粒度分析結(jié)果。

　　布魯克納米粒度儀以其多角度測量、高精度高靈敏度、廣泛測量范圍和便捷操作等性能特點(diǎn)，成為納米粒度分析領(lǐng)域的理想選擇，助力科研人員在納米世界中探索更多未知。