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        岱美儀器技術服務(上海)有限公司

        • 2026

          01-29

          SiC 涂層石墨基座與 Y?O? 抗等離子涂層:關鍵材料與檢測技術

          在現代半導體制造工藝中,高性能材料及其精密檢測技術對器件質量、良率和可靠性起著決定性作用。本文結合兩份技術資料,分別介紹用于金屬有機化學氣相沉積(MOCVD)設備中的SiC涂層石墨基座,以及用于等離子...
        • 2026

          01-29

          實測案例——醫療器械行業應用 : 冠狀動脈支架涂層厚度測量

          介紹:在醫療器械行業,特別是針對冠狀動脈支架(CoronaryStents)而言,涂層(如載藥聚合物或派瑞林Parylene)的涂敷是制造過程中至關重要的一步。確保涂層厚度一致達到完整藥效的精確性和均...
        • 2026

          01-21

          光刻膠勻膠機具體作用和特點包括以下介紹

          光刻膠勻膠機是半導體制造及微納加工領域中用于在晶片或基底表面均勻涂覆光刻膠的關鍵設備,其核心原理是通過高速旋轉產生的離心力,結合對膠液流量、旋轉速度及時間的準確控制,實現光刻膠薄膜的均勻制備。該設備在...
        • 2025

          12-19

          紫外光納米壓印機從操作到優化的全流程指南

          作為先進的納米壓印設備,EVG7300紫外光納米壓印機憑借其300毫米晶圓處理能力、300納米級對準精度及模塊化設計,成為半導體、光學元件及生物醫療領域的關鍵制造工具。本文從設備結構、操作流程、關鍵參...
        • 2025

          12-13

          電容式位移傳感器探頭精準測量的“雙引擎”驅動

          在半導體晶圓加工、精密機床主軸跳動檢測、航空航天部件形變監測等高精度制造場景中,位移測量的精度直接決定產品良率與設備穩定性。Microsense作為電容式位移傳感器品牌,通過被動式與主動式兩大探頭技術...
        • 2025

          11-14

          薄膜厚度測量儀光學模塊集成化的精密測量核心

          在半導體制造、光學薄膜研發及精密涂層檢測等領域,薄膜厚度與光學參數的精準測量是保障產品質量與性能的關鍵環節。Thetametrisis薄膜厚度測量儀(如FR-Scanner系列)憑借其高度集成的光學模...
        • 2025

          11-03

          “看見”納米級高度:白光干涉儀工作原理與核心優勢解析

          白光干涉儀作為精密測量領域的“光學顯微鏡”,憑借其納米級分辨率和非接觸式測量特性,成為半導體、光學加工、微機電系統(MEMS)等領域的核心檢測工具。其核心原理基于光的干涉現象,通過解析干涉條紋的微小變...
        • 2025

          10-25

          膜厚測量儀操作全解析,精準測量的科學流程

          在材料科學與精密制造領域,ThetaMetrisis膜厚測量儀憑借其良好的測量精度和智能分析能力,成為薄膜厚度檢測的行業標準。本文將詳細解析該設備從安裝到操作的全流程,揭示其精準測量的科學原理。一、系...
        • 2025

          10-11

          岱美儀器:以多元技術構建薄膜厚度測量新范式

          在半導體制造、光學鍍膜、新能源材料等精密工業領域,薄膜厚度的精準控制直接決定產品性能。岱美儀器技術服務(上海)有限公司憑借二十余年技術積淀,構建起覆蓋機械接觸、光學干涉、光譜反射三大技術路徑的薄膜厚度...
        • 2025

          10-10

          膜厚輪廓儀的多層膜結構全譜段解析技術

          膜厚輪廓儀的多層膜結構全譜段解析技術,是當前半導體、顯示及光學器件制造領域的關鍵突破。該技術通過單次曝光光譜分辨干涉測量法,實現了多層膜厚度與三維表面輪廓的同步實時測量,解決了傳統橢偏儀逐點測量效率低...
        • 2025

          09-02

          探針式輪廓儀工作原理與精度影響因素分析

          探針式輪廓儀通過物理探針接觸樣品表面,以高精度測量微觀形貌。其核心原理是:探針(通常為金剛石材質,曲率半徑50nm-25μm可選)在樣品表面劃動時,表面微觀凹凸使探針產生垂直位移,位移傳感器(如壓電陶...
        • 2025

          08-05

          動態激光干涉儀:高精度動態測量的核心技術解析

          動態激光干涉儀作為現代精密測量領域的儀器,其核心技術體系融合了光學、電子學和計算機科學的創新成果。該系統通過激光干涉原理實現納米級動態測量,在半導體制造、精密光學和超精密加工等領域具有不可替代的作用。...
        • 2025

          07-27

          電動R-Theta平臺賦能薄膜厚度測量儀

          在半導體制造、光學鍍膜、新能源材料等精密工業領域,薄膜厚度的均勻性與精確性直接決定了產品性能與良率。傳統薄膜厚度測量依賴手動定位或固定點檢測,存在效率低、數據覆蓋不全、人為誤差大等痛點。而搭載電動R-...
        • 2025

          07-15

          光學膜厚儀基于干涉原理的精密測量技術解析

          光學膜厚儀作為現代材料科學中至關重要的精密測量工具,其核心原理基于光的干涉現象與薄膜光學特性。當一束光波照射至透明或半透明薄膜表面時,部分光在膜層上表面反射,另一部分穿透膜層后在下表面反射,兩束反射光...
        • 2025

          07-04

          光學顯微鏡適配器如何破解熒光與明場成像沖突?

          光學顯微鏡適配器通過多通道光路設計、智能濾光片切換系統及環境光控制技術,有效破解熒光與明場成像沖突,實現兩種觀察方式的無縫切換與高質量成像,具體分析如下:多通道光路設計:獨立傳輸與干擾隔離適配器采用分...
        • 2025

          06-25

          主動減震臺從環境適配到性能調試的標準化操作

          主動減震臺作為精密儀器(如掃描電子顯微鏡、原子力顯微鏡)的核心支撐設備,通過實時監測與動態補償技術,可有效隔離地面振動(頻率范圍0.5-200Hz),將振動干擾降低至微米級甚至納米級。其安裝質量直接影...
        • 2025

          06-12

          主動隔震臺從低頻振動抑制到六自由度精密控制

          主動隔震臺作為高精度實驗設備的“穩定基石”,通過主動反饋控制技術,可實時抵消環境振動對精密儀器的影響,廣泛應用于激光共聚焦顯微鏡、掃描電鏡及原子力顯微鏡等領域。其核心功能涵蓋低頻振動抑制、六自由度主動...
        • 2025

          06-06

          白光干涉儀在納米級平坦度與缺陷識別中的應用

          白光干涉儀作為一種高精度光學測量設備,在納米級平坦度檢測與缺陷識別領域發揮著關鍵作用。其基于低相干干涉原理,通過寬帶光源的干涉條紋分析,可實現亞納米級垂直分辨率和微米級橫向分辨率的表面形貌測量,尤其適...
        • 2025

          05-24

          電容式位移傳感器多元類型與工業多面手應用解析

          在精密測量領域,電容式位移傳感器憑借其高靈敏度、抗干擾能力強等特點,成為工業自動化、精密制造等領域的重要工具。本文將梳理電容式位移傳感器的典型類型及其主要應用場景。一、變間隙型:微觀位移的高精度捕手1...
        • 2025

          05-13

          勻膠機在微陣列電極與生物分子功能化中的應用探索

          勻膠機通過高速旋轉基底產生的離心力,實現了膠體溶液在微納結構表面的均勻涂覆,在微陣列電極制備與生物分子功能化中展現出價值。在微陣列電極領域,勻膠機可精確控制導電聚合物、水凝膠等材料的成膜厚度與均勻性。...

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