開爾文探針系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
開爾文探針系統(tǒng)Kelvin Probe可用于光電化學(xué)中,精確測量不同半導(dǎo)體和導(dǎo)電材料的功函數(shù)，精度高。表面態(tài)在樣品的電荷轉(zhuǎn)移和功函數(shù)變化中起著重要作用。
超高真空超低溫四探針 參考價(jià)：面議
超高真空超低溫四探針SPM是超高真空室內(nèi)應(yīng)用設(shè)計(jì)的UHV極低溫多探針掃描探針顯微鏡，得益于多探針SPM優(yōu)異性能,這款產(chǎn)品可用于納米技術(shù)
超高真空開爾文探針系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
超高真空開爾文探針系統(tǒng)幫助用戶充分利用真空下的工作功能和接觸電位差（CPD）測量。每個系統(tǒng)都配有高質(zhì)量的手動或電動轉(zhuǎn)換器，可實(shí)現(xiàn)可靠和準(zhǔn)確的針尖到樣品定位，跟蹤...
單點(diǎn)開爾文探針系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
我們的單點(diǎn)開爾文探針系統(tǒng)采用非零信號檢測方法對材料的功函數(shù)/費(fèi)米能級進(jìn)行非常高質(zhì)量的測量。
雙面探針臺 參考價(jià)：面議
雙面探針臺GTL5050旨在解決電路板PCBA雙面探測的困難任務(wù)。而不是試圖用垂直安裝的板進(jìn)行探測
大面積探針臺 參考價(jià)：面議
大面積探針臺GTL4060是為較大面積PCBA探針分析測試設(shè)計(jì)的大面積探針平臺,具有更大的測試平臺，以容納中大型測試板，但仍然能夠在較小的板、插座、連接器和子組...
非接觸式探針臺 參考價(jià)：面議
這款非接觸式探針臺是為高頻電子設(shè)備、IC和材料測試/表征設(shè)計(jì)的非接觸式探針測試分析系統(tǒng)。實(shí)現(xiàn)了整個毫米波和太赫茲波段電子設(shè)備和IC的自動S參數(shù)表征。測量范圍為5...
四探針電阻率電導(dǎo)率計(jì) 參考價(jià)：面議
這款四探針電阻率電導(dǎo)率計(jì)可快速測量材料的薄層電阻,方塊電阻,sheet resistance電阻率和電導(dǎo)率,適合多種材料和樣品測量。
自動四探針電阻率mapping測試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
自動四探針電阻率mapping測試系統(tǒng)是為晶圓電阻率繪圖mapping設(shè)計(jì)的工業(yè)級自動四點(diǎn)探針電阻率測試系統(tǒng)。采用成熟的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，提供快速、準(zhǔn)確和可靠的晶圓樣品...
磁場低溫探針臺 參考價(jià)：面議
磁場低溫探針臺采用MicroXact低溫磁探針臺技術(shù),滿足電磁鐵、超導(dǎo)磁體或電磁鐵和超導(dǎo)磁體的組合測試應(yīng)用。
進(jìn)口高溫探針臺 參考價(jià)：面議
這款高溫探針臺是為高溫環(huán)境器件測試或真空環(huán)境或氣體環(huán)境器件探針臺分析測試而設(shè)計(jì)。
進(jìn)口無氦低溫探針臺 參考價(jià)：面議
無氦低溫探針臺CPS-CF是為極低溫探針測試設(shè)計(jì)的閉循環(huán)低溫探針臺系統(tǒng),適合低溫下對器件和電路進(jìn)行探針測試。
閉循環(huán)低溫真空探針臺 參考價(jià)：面議
這款閉循環(huán)低溫真空探針臺是半自動低溫真空探針臺,可在低溫單CCR系統(tǒng)9K，雙CCR系統(tǒng)4.5K和三CCR系統(tǒng)低于4K溫度下測試經(jīng)驗(yàn)和器件。
激光切割修復(fù)探針臺 參考價(jià)：面議
激光切割分析探針臺集成分析探針臺和半導(dǎo)體激光修調(diào)trimming系統(tǒng),適合半導(dǎo)體分析切割,失效分析,半導(dǎo)體修調(diào)trimming,結(jié)構(gòu)層移除,標(biāo)記等諸多應(yīng)用。
進(jìn)口半自動晶圓探針臺 參考價(jià)：面議
這款半自動晶圓探針臺廣泛用作分析探針臺和RF探針臺,可測試100mm晶圓,性價(jià)比高,配置靈活多樣,具有加熱型晶圓夾盤chuck,體式顯微鏡,RF屏蔽箱等諸多配件...
半自動真空探針臺 參考價(jià)：面議
這款半自動真空探針臺SPS-2600-VAC和SPS-2800-VAC系列是MicroXact的真空探針系統(tǒng)，設(shè)計(jì)用于支持在真空或受控氣體環(huán)境中對多達(dá)100mm...
磁探針臺 參考價(jià)：面議
這款磁探針臺可提供三維磁場控制,滿足磁性控制RF探針測試應(yīng)用.作為磁場探針臺實(shí)現(xiàn)了平面磁場的任意操控,方便自旋電子器件探針測試.
進(jìn)口大型晶圓探針臺 參考價(jià)：面議
大型晶圓探針臺600LS是專業(yè)為300mm晶圓測試設(shè)計(jì)的大尺寸晶圓測試探針臺系統(tǒng),廣泛用于6''晶圓,8''晶圓和12''晶圓探針測試應(yīng)用。
進(jìn)口半自動探針臺 參考價(jià)：面議
這款半自動探針臺廣泛用作電動分析探針臺和半自動晶圓探針臺,可測試200mm晶圓,采用重型多功能探針臺平臺制造,配置靈活多樣,具有加熱制冷晶圓夾盤chuck,體式...
進(jìn)口晶圓測試探針臺 參考價(jià)：面議
這款手動型晶圓探針臺廣泛用作分析探針臺和RF探針臺,可測試200mm晶圓,性價(jià)比高,配置靈活多樣,具有加熱型晶圓夾盤chuck,體式顯微鏡,RF屏蔽箱等諸多配件...
進(jìn)口分析探針臺 參考價(jià)：面議
這款手動型分析探針臺廣泛用作晶圓探針臺和RF探針臺,性價(jià)比高,配置靈活多樣,具有加熱型晶圓夾盤chuck,體式顯微鏡,RF屏蔽箱等諸多配件可選擇,適合實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)...
微探針臺系統(tǒng),micro probe 參考價(jià)：面議
微探針臺系統(tǒng)micro probe system可植入顯微鏡中,把顯微鏡改造成探針臺系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)微操作和微測量功能。
進(jìn)口手動探針臺 參考價(jià)：面議
這款手動探針臺適合150mm尺寸晶圓測試,是經(jīng)濟(jì)型探針臺但是具有昂貴探針臺的良好參數(shù)性能，結(jié)構(gòu)緊湊而方便使用,非常適合實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體器件測試和電路測試應(yīng)用。
進(jìn)口高溫探針臺,高功率探針tai 參考價(jià)：面議
采用signatone探針臺技術(shù)實(shí)現(xiàn)300mm尺寸晶圓探針臺測試,屬于半自動RF/DC/CV測試高功率探針臺。(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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