光纖特征參數測量儀

光纖特征參數測量儀FGC-GA是一種多功能光纖幾何參數測量儀器,一臺這樣的儀器可以測量光纖v型槽塊幾何形狀,芯對芯間距和芯X、Y偏移量,適合寬度高達15mm的多光纖陣列,具有1200微米視場以及自動橫向掃描樣品臺方便測量。
光纖特征參數測量儀-暗場照明
暗場照明系統允許軟件顯示一個清晰的實時圖像的陣列。這允許用戶檢查和成像的前面的陣列，并采取的V凹槽自己的測量。具有圖像拼接的光纖特征參數測量儀FGC-GA能夠以wan美的細節生成v型槽陣列整體的完整圖像。

光纖特征參數測量儀高效的軟件
該光纖特征參數測量儀FGC附帶了一個有效的軟件包，其中包含在反射和傳輸模式之間切換的控制。這允許用戶快速和容易得到核心和包層的幾何測量，包括直徑，非圓度和同心度。該軟件包含所有標準電信光纖的測量模板，不過用戶也可以創建自己的測量模板。這樣就可以測量許多特殊類型的光纖，包括雙包層光纖、彎曲不敏感光纖、多芯光纖等等。

光纖特征參數測量儀規格參數

單根光纖測量能力
光纖直徑：高達1000微米
單模：標準電信
多模（梯度折射率）：OM1,OM2,OM3,OM4
多模（階躍折射率）：從 50/125µm到1000µm包層直徑
保偏光纖：80µm, 125µm PANDA
雙包層光纖：小層厚20µm
多芯光纖：7芯
非圓光纖：5-8
測量重復精度如下：
芯徑                  <0.1µm
包層直徑           <0.25µm
纖芯非圓度<0.05%
包層非圓度<0.1%
芯到包層同心度   <0.15µm

光纖陣列測量性能
大光纖寬度：15mm
光纖類型：單模，多模，保偏光纖
測量時間:<1分鐘 @3個光纖陣列
MT ferrules: 芯相對于導銷的位置
測量重復精度如下：
芯徑                  <0.1µm
纖芯X/Y偏移     <0.25µm
纖芯非圓度<0.05%
纖芯-纖芯距離<0.1%

光纖照明（反射）：雙波長，850nm和525nm可轉換
光纖照明（透射）：多LED陣列，850nm,
光纖照明（保偏）：外部模塊，適合80~125微米
大視場：1200微米
成像CCD: 4864x3232像素分辨率
曝光： 全局快門，0.1ms到100ms曝光時間