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光電化學

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校正晶圓標準片參考價：面議
校正晶圓標準片，用于Tencror Sufscan ,Hitach 和KLA-Tencor等設備的校準晶圓標準片和絕對校準標準片。
型號：廠商性質：代理商所在地：上海市對比

薄膜半導體材料制備系統超高真空組件過濾測試設備過濾性測試機ISO16890濾料測試

2025/12/4 16:37:55138
掃描開爾文探針參考價：面議
掃描開爾文探針不僅可以測量樣品單個點的接觸電位差（CPD），還可以掃描整個樣品表面。
型號：廠商性質：代理商所在地：上海市對比

薄膜半導體材料制備系統超高真空組件深能級瞬態譜儀材料表征設備開爾文探針系統

2025/12/4 16:34:00136
量子效率測量站參考價：面議
量子效率測量站是用于太陽能電池光譜響應研究的完整實驗裝置。樣品由光柵產生的單色光束照射，入口處有兩種類型的光源：氙燈和鹵素燈。
型號：廠商性質：代理商所在地：上海市對比

薄膜半導體材料制備系統超高真空組件過濾測試設備過濾性測試機ISO16890濾料測試

2025/12/4 16:32:29132
熒光分光光度計參考價：面議
熒光分光光度計：用于電化學樣品中的熒光研究，研究光譜范圍廣、測量靈敏度高、光源強度穩定該儀器設計用于電化學樣品（固態和液態）中的熒光研究。能夠捕獲樣品的發射...
型號：廠商性質：代理商所在地：上海市對比

薄膜半導體材料制備系統超高真空組件過濾測試設備過濾性測試機熒光分光光度計

2025/12/4 16:30:19147
科學級—開爾文探針參考價：面議
科學級—開爾文探針可以精確測量不同半導體和導電材料的功函數，具有較高的精度和準確性。
型號：廠商性質：代理商所在地：上海市對比

薄膜半導體材料制備系統超高真空組件深能級瞬態譜儀材料表征設備開爾文探針系統

2025/12/4 16:28:24131
時間分辨阻抗譜分析儀參考價：面議
時間分辨阻抗譜分析儀測量流經樣品的電流和樣品上的電壓，以響應作為頻率疊加產生的電壓信號。
型號：廠商性質：代理商所在地：上海市對比

薄膜半導體材料制備系統超高真空組件過濾測試設備過濾性測試機時間分辨阻抗譜分析儀

2025/12/4 16:25:55126
強度調制光電流和光電壓光譜系統參考價：面議
強度調制光電流和光電壓光譜系統，與使用 IUPAC（逆符號）約定的恒電位測量（世界上所有恒電位儀采用）相比，當前假設的符號約定是正常的。
型號：廠商性質：代理商所在地：上海市對比

薄膜半導體材料制備系統超高真空組件過濾測試設備過濾性測試機ISO16890濾料測試

2025/12/4 16:23:46104
電化學開爾文探針參考價：面議
電化學開爾文探針，的關鍵元件是電化學比色皿套件，其中樣品直接放置在比色皿的頂部。
型號：廠商性質：代理商所在地：上海市對比

薄膜半導體材料制備系統超高真空組件深能級瞬態譜儀材料表征設備開爾文探針系統

2025/12/4 16:21:55123
熒光分光光度計（第一光子計數）參考價：面議
熒光分光光度計（第一光子計數）旨在探索暗淡樣品的熒光衰減。由于熒光現象的典型時間尺度跨越 10^-8 秒，因此需要更快的設置來觀察如此快速的過程。
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薄膜半導體材料制備系統超高真空組件過濾測試設備過濾性測試機ISO16890濾料測試

2025/12/4 16:19:38117
瞬態吸收光譜參考價：面議
瞬態吸收光譜，專用于測量光激發樣品中量子態之間的躍遷。TA 測量適用于液體和固體樣品類型。
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薄膜半導體材料制備系統超高真空組件過濾測試設備過濾性測試機ISO16890濾料測試

2025/12/4 16:17:1099
微褪色測試儀參考價：面議
微褪色測試儀，配備了標準的三腳架支架。它允許將儀器安裝在垂直位置，以檢查無法運輸的大型物體（墻壁、壁畫、雕塑等）。
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薄膜半導體材料制備系統超高真空組件過濾測試設備過濾性測試機ISO16890濾料測試

2025/12/4 16:14:55108
擴展光電化學（PEC)測量站參考價：面議
擴展光電化學（PEC)測量站配備了光柵和氙燈照明器，可提供廣泛的入射波長范圍：UV、VIS 和 NIR。帶有 Air Mass 1.5G 濾光片的氙氣照明器也可...
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薄膜半導體材料制備系統超高真空組件過濾測試設備過濾性測試機ISO16890濾料測試

2025/12/4 16:13:07126

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