手持式微波綜合測試儀(1MHz～20GHz) 參考價：面議
手持式微波綜合測試儀(1MHz～20GHz)頻率范圍可達1MHz～20GHz，集電纜和天線駐波比測試、不連續(xù)點故障定位測試、插入損耗和增益測試、頻譜分析、功率測...
多端口光器件IL、PDL波長掃描快速測試系統(tǒng) 參考價：面議
多端口光器件IL、PDL波長掃描快速測試系統(tǒng)由可調(diào)諧激光源、高速光功率計平臺組成，配合集成了相關(guān)算法的上位機軟件，可以快速完成光器件不同波長下的 IL（插入損耗...
Phasics大口徑激光測試解決方案-KALAS系統(tǒng) 參考價：面議
Phasics大口徑激光測試解決方案-KALAS系統(tǒng)，高分辨率（512×512）、寬波段（可見光至短波紅外）及閉環(huán)控制能力，已應(yīng)用于激光聚變和自適應(yīng)光學(xué)系統(tǒng)。
壓電馬達XY兩軸位移臺，顯微鏡載物臺 參考價：面議
壓電馬達XY兩軸位移臺，顯微鏡載物臺小尺寸設(shè)計使其易于與 OEM 集成。可選配 M6 面包板插件和其他多種插件。
高精度變溫霍爾效應(yīng)測試儀（70-730K） 參考價：面議
高精度變溫霍爾效應(yīng)測試儀（70-730K）利用范德堡測量技術(shù)對半導(dǎo)體材料的電阻率、載流子濃度、磁致電阻率、霍爾系數(shù)、電子遷移率等進行測量，用來表征和了解材料的物...
Micro-LED晶圓臺測試系統(tǒng) 參考價：面議
Micro-LED晶圓臺測試系統(tǒng)實現(xiàn)了對M-LED的綜合光電性能測試，是Micro-LED/Mini-LED企業(yè)研發(fā)、實驗的檢測設(shè)備。
紅外光學(xué)測試臺 參考價：面議
Kaleo IR系列紅外光學(xué)測試臺光路結(jié)構(gòu)：單通路/雙通路 - 共軸/離軸 - 無限遠有限遠 - 無限遠無限遠 - 有限遠有限遠
10