澤攸科技ZEM15C臺式掃描電鏡——優于10nm高性價比教學級SEM。采用預對中鎢燈絲設計，15萬倍放大+即插即用操作，無需減震臺即可穩定成像。專為高校實驗室和...

澤攸科技ZEM Ultra場發射臺式掃描電鏡——優于2.5nm超高分辨率桌面SEM。采用肖特基電子槍+三級真空系統，支持50萬倍放大及EDS/EBSD分析。適用...

澤攸科技ZEM18臺式掃描電鏡——優于6nm高分辨率桌面SEM。90秒快速抽真空技術，支持20萬倍放大及BSE/SE雙模式成像。無縫兼容加熱/冷臺等原位附件，廣...

C&W 腐蝕測試專用鹽主要成分是氯化鈉，其質量符合嚴格的ASTM B117標準。氯化鈉的顆粒和純度是專門為鹽霧腐蝕性測試配制的，用于C&W鹽霧試驗箱和CCT循環...

此冷凝箱可配合用于 C&W循環腐蝕試驗箱。 C&W 循環腐蝕試驗箱（CCT）是為了滿足現代工業對環境試驗條件的要求而設計。其可靠性、易操作性和堅固的結構得到了廣...

C&W濕度調節箱適用于油漆、塑料、包裝、紙張、板材、電子、汽車、航空航天、軍事、紡織和電信行業的環境檢測要求。該濕度調節箱具有可變濕度、溫濕度、環境或氣候調節等...

C&W 濕度箱用于重現在恒定或循環溫度下的高濕度試驗條件。試驗箱腔內的環境是通過將水加熱到精確溫度產生水蒸氣形成的。水蒸氣浸透測試區域的空氣，然后再不斷通過內部...

C&W 循環腐蝕試驗箱（CCT）是為了滿足現代工業對環境試驗條件的要求而設計。其可靠性、易操作性和堅固的結構得到了廣大客戶的認可，設備已廣泛應用到了*各類重要行...

C&W 試驗箱廣泛用于整個行業內的組件和涂層測試板測試，設計已滿足或超出所有主要國家、國際和公司標準要求。這種開創性的設計已經使C&W成為了*加速腐蝕和環境檢測...

幾乎任何材質樣品都可獲得高質量截面，在沒有任何變形或損傷的情況下揭開樣品內部真實結構信息。徠卡EM TIC 3X三離子束切割儀適宜處理軟/硬復合、帶有孔縫結構、...

Leica EM ACE900是一款制樣系統。 在一臺儀器中對樣品完成冷凍斷裂、冷凍蝕刻和電子束鍍膜。通過旋轉冷凍式載臺，利用電子束進行高分辨率碳/金屬復合鍍膜...

徠卡EM ACE200低真空鍍膜機為SEM和TEM分析生產同質和導電的金屬或碳涂層。配置為濺射鍍膜機或碳絲蒸發鍍膜機后，可以在全自動化系統中獲得可重復的結果，實...

徠卡EM TXP精研一體機是一款可對目標區域進行準確定位的表面處理工具，特別適合于SEM，TEM及LM觀察之前對樣品進行切割、拋光等系列處理。它尤其適合于制備高...

Leica EM ACE600是多用途高真空薄膜沉積系統，根據您在FE-SEM和TEM應用的需要生產非常薄、細粒度和導電的金屬和碳涂層，用于高分辨率分析。這種高...

為室溫切片設計的超薄切片機和為冷凍切片的冷凍超薄切片機UC Enuity新上線自動校準和自動修塊功能，大大降低常規切片和連續超薄切片技術門檻，讓您輕松掌握切片技...

徠卡VCT500真空冷凍傳輸系統可以在冷凍或常溫，真空或保護氣體條件下傳輸樣品，有效避免樣品在不同的制備和分析系統之間傳輸時受到污染和形成冰晶。

在日常的顯微鏡操作中體驗到更高的效率和舒適度。Visoria M材料顯微鏡適用于金屬、電子和聚合物行業以及材料科學實驗室。 使用編碼的功能、優化的光強設置及其他...

在日常的顯微鏡操作中體驗到更高的效率和舒適度。Visoria P偏光顯微鏡使用偏光來研究材料和地質樣品的光學特性。 使用編碼的功能、優化的光強設置及其他顯微鏡功...

HP1000V-MPS Instec的真空高溫探針臺系列是可從外部移動探針進行點針的桌上型探針臺，涵蓋多型號、多溫度范圍。同時允許溫控、探針電測試、光學觀察和樣...

HCP421V-MPS Instec的真空型mini臺式探針臺系列是可從外部移動探針進行點針的桌上型探針臺，涵蓋多型號、多溫度范圍。同時允許溫控、探針電測試、光...