日置低電阻測(cè)試儀

日置低電阻測(cè)試儀RM3542C精度可達(dá)0.015%，最小分辨率可測(cè)量0.1μΩ的電阻。在變頻器馬達(dá)的線圈檢查等需要高分辨率的電阻測(cè)量等領(lǐng)域游刃有余。在電子零部件方面，多用于導(dǎo)電薄膜/導(dǎo)電橡膠等高電阻材料。

一、日置低電阻測(cè)試儀產(chǎn)品特點(diǎn)：

升級(jí)自動(dòng)化與品質(zhì)，實(shí)現(xiàn)下一代生產(chǎn)檢測(cè)

● ΔR（工序?qū)Ρ龋┫轗M3542C-3

● BIN（分選•分級(jí)）限RM3542C-3

● 跳線電阻測(cè)量支持功能

● 節(jié)拍×再現(xiàn)性

● 低應(yīng)力測(cè)量

● 抗干擾性

二、產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：

升級(jí)自動(dòng)化與品質(zhì)，實(shí)現(xiàn)下一代生產(chǎn)檢測(cè)

RM3542C是專(zhuān)為片式電阻器/片式鐵氧體磁珠的量產(chǎn)檢測(cè)自動(dòng)化設(shè)備的直流電阻計(jì)。通過(guò) ΔR對(duì)比工序前后的變化率、BIN功能（最多7個(gè)等級(jí)）即時(shí)判定產(chǎn)品合格與否及等級(jí)、跳線電阻測(cè)量支持功能加速低電阻分選，實(shí)現(xiàn)更嚴(yán)格的檢測(cè)，提高檢測(cè)效率。此外，通過(guò)低應(yīng)力測(cè)量與實(shí)時(shí)監(jiān)控接觸狀態(tài)保障檢測(cè)可靠性，以及優(yōu)化量程結(jié)構(gòu)與浮式設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)量產(chǎn)檢測(cè)環(huán)境下的穩(wěn)定測(cè)量。

三項(xiàng)新功能，推動(dòng)檢測(cè)升級(jí) 跳線電阻測(cè)量時(shí)間最、快可縮短76%：跳線電阻測(cè)量支持功能

針對(duì)跳線電阻（零歐姆電阻）等100 mΩ以下元件的檢測(cè)，可跳過(guò)耗時(shí)的高精度量程。在典型測(cè)試條件下，測(cè)量時(shí)間縮短約76%。

示例：檢查100mΩ跳線電阻（零歐姆電阻）

比較器設(shè)置：上限值100 mΩ、下限值50 mΩ

測(cè)量?jī)x設(shè)置：測(cè)量速度FAST、延遲（從施加時(shí)間開(kāi)始到測(cè)量的時(shí)間）：0 ms

提高分選•分級(jí)工藝的效率：BIN功能（限RM3542C-3）

根據(jù)多項(xiàng)判定基準(zhǔn)，將測(cè)量結(jié)果劃分為0～6等級(jí)。實(shí)現(xiàn)合格與否判定的同時(shí)，簡(jiǎn)化了量產(chǎn)檢測(cè)必需的分級(jí)流程。

提高檢測(cè)可靠性及貼裝工藝檢測(cè)判定與傳送處理的速度：ΔR功能（限RM3542C-3）

由兩臺(tái)測(cè)量?jī)x的測(cè)量結(jié)果，自動(dòng)計(jì)算并比較電阻值變化率（ΔR），再根據(jù)閾值判定產(chǎn)品合格與否。

無(wú)需借助外部運(yùn)算，即可在產(chǎn)線內(nèi)完成工序間對(duì)比。

Proven Foundation:可靠性經(jīng)量產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)考驗(yàn)

靈活的累積時(shí)間設(shè)置與量程優(yōu)化，兼顧生產(chǎn)效率與高精度穩(wěn)定測(cè)量。

各量程可獨(dú)立設(shè)置累積時(shí)間，支持從FAST 0.9 ms（最、快速度）到SLOW高精度測(cè)量。采用3Ω/300Ω等中間量程，改善S/N并降低測(cè)量偏差。

此外，采用浮式設(shè)計(jì)，即使在生產(chǎn)線這類(lèi)強(qiáng)干擾環(huán)境中，也能實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定測(cè)量。

采用低應(yīng)力測(cè)量，防止元件特性發(fā)生變化及受損，實(shí)現(xiàn)高可靠性測(cè)量。

可將作為測(cè)量應(yīng)力主要誘因的施加電壓限制在5V以下。在H/L端子側(cè)交替施加接觸改善電流，修整電極表面的同時(shí)，抑制沖擊電流峰值。

兼顧0201及特性易發(fā)生變化的鐵氧體磁珠的檢測(cè)需求。

【操作條件】LOW POWER:ON或施加電壓限制功能：ON狀態(tài)下，接觸改善功能設(shè)為脈沖。

接觸改善+接觸狀態(tài)監(jiān)控，大幅降低誤判風(fēng)險(xiǎn)，確保高檢測(cè)可靠性

通過(guò)測(cè)量前的接觸改善（17/25/35/50 mA）穩(wěn)定接觸狀態(tài)。檢測(cè)過(guò)程中，由接觸監(jiān)控功能實(shí)時(shí)監(jiān)控狀態(tài)，降低因接觸不良導(dǎo)致的誤判及產(chǎn)線停機(jī)風(fēng)險(xiǎn)。

為更穩(wěn)定的系統(tǒng)運(yùn)行與嚴(yán)苛檢測(cè)保駕護(hù)航

通過(guò)預(yù)設(shè)功能可一鍵調(diào)用測(cè)量條件，減少換產(chǎn)失誤，保障產(chǎn)線穩(wěn)定啟動(dòng)。搭載工位錯(cuò)位預(yù)防功能，可避免兩臺(tái)校正設(shè)備在校正或維護(hù)后的設(shè)備連接錯(cuò)誤。此外，設(shè)備支持90天精度保障*，能維持更高測(cè)量精度，滿足超窄公差元件的檢測(cè)需求。換產(chǎn)再現(xiàn)性、產(chǎn)線穩(wěn)定性、嚴(yán)苛判定力三者兼得。

*限RM3542C-3

日置授權(quán)代理商：蘇州威銳科電子有限公司

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規(guī)格參數(shù)：

基本參數(shù) 精度保證時(shí)間1年（僅RM3542C-3有90天精度）