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優(yōu)良光電探測(cè)器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
APD-QE 采用了光束空間強(qiáng)度技術(shù)，利用 ASTM 標(biāo)準(zhǔn)制定的「Irradiance Mode」測(cè)試方式，與各種優(yōu)良探尖臺(tái)形成完整的微米級(jí)光感測(cè)器全光譜效率測(cè)...
光譜響應(yīng)測(cè)試與光電探測(cè)器特性分析 參考價(jià)：面議
傳統(tǒng)的量子效率系統(tǒng)在新型光電探測(cè)器面臨許多測(cè)試方法挑戰(zhàn)。光焱科技針對(duì)新世代的光電探測(cè)器 (PD) 提供了完整解決方案~命名為 PD-QE光譜響應(yīng)測(cè)試與光電傳感器...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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