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        首頁>>光焱科技股份有限公司>>產品展示>>EQE/光子-電子轉換測試>>損耗缺陷分析

        • 損耗分析-準費米能級檢測儀 參考價:面議

          Enlitech 隆重推出QFLS-Maper 損耗分析-準費米能級檢測儀,可視覺化呈現QFLS image,一眼即可掌握樣品QFLS、Pseudo J-V、P...
          型號: QFLS-Mape... 廠商性質:生產商所在地:高雄市 對比
          QFLS損耗缺陷分析評估材料效率極限Pseudo J-ViVOC
          2025/7/11 17:44:273185
        • 光電器件響應測量與光偵測器 參考價:面議

          PD-RS光電器件響應測量與光偵測器可針對光電器件 (探測器或光伏器件) 進行光電轉換過程的響應行為測量與分析。
          型號: PD-RS 廠商性質:生產商所在地:高雄市 對比
          光電器件光偵測器頻率響應測量TPC/TPV光電流時間響應測試
          2025/3/20 17:10:085142
        • 太陽能電池Voc損耗分析儀 參考價:面議

          光焱科技REPS+與G2 Voc損耗分析儀是一個完整的系統,可以幫助科學家測量、計算和分析工作中的太陽能電池中的 Voc-loss,并為下一步的工藝改進提供思路...
          型號: REPS Ultr... 廠商性質:生產商所在地:高雄市 對比
          Voc-lossREPS太陽能電池Voc損耗分析太陽能電池Voc損耗
          2025/3/14 12:23:0612549
        • 雷射掃描缺陷圖譜儀 參考價:面議

          激光掃描缺陷成像儀是激光束感應電流(LBIC)測試的升級版本。它利用波長能量大于半導體帶隙的激光束照射半導體,產生電子空穴對。通過快速掃描樣品表面,獲得揭示內部...
          型號: LSD4 廠商性質:生產商所在地:高雄市 對比
          太陽能電池EQE光譜響應缺陷檢測
          2025/3/14 11:49:443546
        • 光焱科技光高靈敏度外部量子效率系統 參考價:面議

          在半導體器件中,不完好的結晶度往往會導致禁帶隙中的缺陷或陷阱態,這極大地影響了器件的整體光學和電學性能。由于帶隙中的吸收系數極低,產生的光電流信號也極弱。因此,...
          型號: FTPS 廠商性質:生產商所在地:高雄市 對比
          Voc-loss損耗分析太陽能電池quantum efficiency外部量子效率
          2025/3/13 18:00:2114326
        • 鈣鈦礦太陽能電池瞬態光電流光電壓測試儀 參考價:面議

          光電流、開路電壓的瞬態特性、載流子遷移率、載流子壽命、載流子動力學過程等是新型太陽電池器件的重要參數。由于新型太陽電池器件面積小、光電流小,非常難以準確測量出光...
          型號: TPC/TPV 廠商性質:生產商所在地:高雄市 對比
          瞬態光電流光電壓光電流光電壓測試儀
          2025/3/13 16:30:127469

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