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        岱美儀器技術服務(上海)有限公司

        • FR-Ultra NIR N3 晶圓厚度測量系統 參考價: 面議

          參考價: 面議 型號:
          FR-Ultra 是一款專用于精確測量半導體以及介電材料超厚層的專用設備。 藉由先進的光學器件,FR-Ultra 可以測量光滑或粗糙的薄膜以及較厚的基材。
          型號: 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
          晶圓厚度測量FR-Ultra半導體測量半導體材料晶圓厚度測量儀
          2025/12/17 13:10:432500

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