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Thetametrisis膜厚測量儀參考價：面議

參考價：面議型號：FR-pRo
Thetametrisis膜厚測量儀FR-pRo是一個模塊化和可擴展平臺的光學測量設備，用于表征厚度范圍為1nm-1mm 的涂層。
型號： FR-pRo 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比

膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學薄膜厚度測量儀

2025/10/22 17:36:2153561
FR-Scanner：自動化高速薄膜厚度測量儀參考價：面議

參考價：面議型號：
光學厚度測量儀的光學模塊可容納所有光學部件：分光計、復合光源(壽命10000小時)、高精度反射探頭。因此，在準確性、重現性和長期穩定性方面保證了優異的性能。
型號：品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比

顯示器薄膜測量自動高速薄膜厚度測量薄膜厚度測量儀

2026/1/14 10:52:473832
全自動帶顯微鏡多點測量參考價：面議

參考價：面議型號：FR-Mic
FR-Mic 多層膜厚度測試儀是一款快速、準確測量薄膜表征應用的模塊化解決方案，可以將光斑縮小到幾個微米，進而分析微小區域或者粗糙表面薄膜特征。
型號： FR-Mic 品牌：ThetaMetrisis所在地：東莞市 對比

多層膜厚度測試Thetametrisis膜厚儀FR-Mic um級薄膜表征全自動顯微鏡多點測量

2025/9/4 13:04:497179
全自動帶顯微鏡多點測量膜厚儀參考價：面議

參考價：面議型號：FR-Mic
硬化涂層膜厚儀是一款快速、準確測量薄膜表征應用的模塊化解決方案，要求的光斑尺寸小到幾個微米，如微圖案表面，粗糙表面及許多其他表面。
型號： FR-Mic 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比

膜厚儀測膜儀薄膜厚度分析儀薄膜厚度測量儀薄膜測量儀

2025/9/4 11:22:5111822
光學顯微鏡適配器參考價：面議

參考價：面議型號：FR-uProbe-LC
FR-uProbe-LC: 可測量小至幾微米的光斑尺寸應用，例如微圖案表面、高粗糙度表面的樣品等等只需單擊鼠標即可在 Vis/NIR波長范圍中測量微小區域薄膜厚...
型號： FR-uProbe... 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比

膜厚儀拓展工具測量

2025/9/4 15:29:202128
FR-Scanner-AIO-Mic-XY300 參考價：面議

參考價：面議型號：
FR-Scanner-AIO-Mic-XY300 是一款整合自動薄膜厚度測繪系統，用于全自動圖案化晶圓上的單層和多層涂層厚度測量。電動X-Y載物臺提供適用尺寸 ...
型號：品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比

膜厚儀薄膜厚度測繪微米級

2025/9/4 15:24:472226
FR-Ultra NIR N3 晶圓厚度測量系統參考價：面議

參考價：面議型號：
FR-Ultra 是一款專用于精確測量半導體以及介電材料超厚層的專用設備。藉由先進的光學器件，FR-Ultra 可以測量光滑或粗糙的薄膜以及較厚的基材。
型號：品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比

晶圓厚度測量FR-Ultra半導體測量半導體材料晶圓厚度測量儀

2025/12/17 13:10:432500
FR-Mic：全自動帶顯微鏡多點測量膜厚儀參考價：面議

參考價：面議型號：
硬化涂層膜厚儀是一款快速、準確測量薄膜表征應用的模塊化解決方案，要求的光斑尺寸小到幾個微米，如微圖案表面，粗糙表面及許多其他表面。
型號：品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比

膜厚儀測膜儀薄膜厚度分析儀薄膜厚度測量儀薄膜測量儀

2025/9/4 14:27:482385
FR-pRo：Thetametrisis膜厚測量儀參考價：面議

參考價：面議型號：
Thetametrisis膜厚測量儀FR-pRo是一個模塊化和可擴展平臺的光學測量設備，用于表征厚度范圍為1nm-1mm 的涂層。
型號：品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比

膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學薄膜厚度測量儀

2025/9/4 14:25:414002
FR-InLine-在線薄膜厚度測量儀參考價：面議

參考價：面議型號：
FR-InLine 是一款模塊化可擴展的在線薄膜厚度測量儀（膜厚儀），可進行在線非接觸測量 3nm-1mm 厚度范圍內的涂層。 FR-InLine 膜厚儀并可以...
型號：品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比

薄膜厚度測量儀膜厚儀FR-InLine岱美儀器

2025/12/27 10:05:333104
-自動化高速薄膜厚度測量儀參考價：面議

參考價：面議型號：FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150
顯示器薄膜測量儀*的光學模塊可容納所有光學部件：分光計、復合光源(壽命10000小時)、高精度反射探頭。因此，在準確性、重現性和長期穩定性方面保證了優異的性能。
型號： FR-Scanne... 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比

顯示器薄膜測量自動高速薄膜厚度測量薄膜厚度測量儀

2025/9/4 14:18:461523
晶圓厚度測量系統參考價：面議

參考價：面議型號：FR-Ultra
FR-Ultra是一種緊湊型設備，專門用于快速、準確和無損測量半導體材料的厚/超厚層及透明層。
型號： FR-Ultra 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比

薄膜厚度測量儀

2025/9/4 14:17:122040
精簡薄膜厚度測量儀參考價：面議

參考價：面議型號：FR-ES
FR-ES 是一款輕巧便捷膜厚測量分析系統。
型號： FR-ES 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比

薄膜測厚儀

2025/9/4 14:15:022119
FR-Ultra 晶圓厚度測量系統參考價：面議

參考價：面議型號：
FR-Ultra是一種緊湊型設備，專門用于快速、準確和無損測量半導體材料的厚/超厚層及透明層。
型號：品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比

薄膜厚度測量儀

2025/9/4 13:47:262670
自動化高速薄膜厚度測量儀參考價：面議

參考價：面議型號：FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150
顯示器薄膜測量儀*的光學模塊可容納所有光學部件：分光計、復合光源(壽命10000小時)、高精度反射探頭。因此，在準確性、重現性和長期穩定性方面保證了優異的性能。
型號： FR-Scanne... 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比

顯示器薄膜測量自動高速薄膜厚度測量薄膜厚度測量儀

2025/9/4 13:39:462907
自動化高速薄膜厚度測量儀參考價：面議

參考價：面議型號：FR-Scanner
薄膜厚度測量的光學模塊可容納所有光學部件：分光計、復合光源(壽命10000小時)、高精度反射探頭。因此，在準確性、重現性和長期穩定性方面保證了優異的性能。
型號： FR-Scanne... 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比

顯示器薄膜測量自動高速薄膜厚度測量薄膜厚度測量儀

2025/9/4 13:02:5615075
Thetametrisis自動化光學膜厚儀參考價：面議

參考價：面議型號：FR-Scanner
Thetametrisis自動化光學膜厚儀 FR-Scanner自動化超高速薄膜厚度測量儀是一種緊湊的臺式工具，適用于自動測繪晶圓片上的涂層厚度。FR-Scan...
型號： FR-Scanne... 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比

膜厚儀測厚儀薄膜測厚儀薄膜厚度測量儀光學薄膜厚度測量儀

2025/9/4 12:15:255061

岱美儀器技術服務（上海）有限公司

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