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相位噪聲測量
是德科技提供專用的相位噪聲分析儀系統，可以簡化您的相位噪聲測量，并大限度地提高您的效率。是德科技創新的相位噪聲測試儀秉承 35 年的低相位噪聲、射頻設計和測量...
型號：所在地：美國參考價：面議更新時間：2025/6/6 14:33:41 對比

相位噪聲測量
便攜式示波器
便攜式示波器某些測試要求使用更便攜、可堆疊的儀器進行專業級測量。但是，您不能為了外形尺寸而犧牲品質。是德科技的 USB 精簡便攜系列手持和模塊化示波器可隨時...
型號： USB 系列所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2025/6/6 14:20:19 對比

示波器
數字萬用表（DMM）
在設計產品時，您不應擔心測量質量問題，而應該全神貫注于創造優質設計。我們的數字萬用表經過精心設計，全力保證每次都能執行可靠、準確的測量。它們采用了非常先進...
型號：所在地：美國參考價：面議更新時間：2025/6/6 14:18:15 對比

測試設備萬用表
數字示波器
InfiniiVision 數字示波器采用了我們的技術創新技術設計，能夠提供更快的波形捕獲率，讓設計中的偶發毛刺無所遁形。直觀的用戶界面和應用軟件，使您在彈指...
型號： InfiniiVi... 所在地：國外參考價：面議更新時間：2025/6/6 14:10:09 對比

示波器
測量機
ET8000型拉力尺寸達到2200×2600 mm的大型工件測量機，作為一款測量設備，其設計充分考慮了大尺寸工件的測量需求，具備高精度和自動化的特點。
型號： ET8000型所在地：日本參考價：面議更新時間：2025/6/6 14:08:15 對比

高精度測量測量機 ET8000型
全自動微形狀測量機
它是一款全自動微形狀測量機，具有出色的精度、穩定性和功能性，非常適合測量 FPD 基板、晶圓、硬盤等的精細形狀、臺階和粗糙度。此外，您可以從多種型號中進行選擇...
型號： ET4000A 所在地：國外參考價：面議更新時間：2025/6/6 14:06:29 對比

晶圓測量全自動微形狀測量機 KOSAKA/小坂研究所
探針臺
CM300xi 探針臺可應對極其復雜的環境帶來的測量挑戰，例如在長時間和多種溫度下在小焊盤上進行無人值守的測試。在 EMI 屏蔽、光密和無濕氣的測試環境中，為各...
型號： CM300xi型所在地：國外參考價：面議更新時間：2025/6/6 12:59:49 對比

探針臺光電測試 CM300xi型 Formfactor 探針臺
探針臺
SUMMIT200探針臺專為研發、設備表征/建模或利基生產應用而設計，可在超低噪聲、直流、射頻、毫米波和太赫茲應用中進行溫度范圍內的精確電氣測量，具有半自動和現...
型號： SUMMIT200 所在地：國外參考價：面議更新時間：2025/6/6 12:51:45 對比

探針臺光電測試 Formfactor SUMMIT200
探針臺
入門級手動探針臺，用于表面耦合和水平邊緣耦合FormFactor推出了一種具有成本效益的硅光子學測量解決方案，以支持新興應用的基礎研究工作。該系統的設計是For...
型號： MPS150-Si... 所在地：美國參考價：面議更新時間：2025/6/6 12:47:49 對比

探針臺手動 Formfactor MPS150-SiPh
CT系統
CT系統CA20用于先進封裝的亞微米3DX射線，CA20旨在以最高分辨率提供2D和3D圖像，它允許對微米級細節進行最快的檢測，并有助于縮短復雜3D IC的上市時...
型號： CA20型所在地：國外參考價：面議更新時間：2025/6/6 12:39:34 對比

工業CT 缺陷檢查 CA20型
CT系統
CC系列CT系統亮點?可靠、快速、可重復的檢測 - 手動和自動?使用 VoidInspect 自動計算空隙?易于使用的動態增強濾鏡，例如 eHDR?使用 mic...
型號： CC系列所在地：國外參考價：面議更新時間：2025/6/6 12:37:48 對比

工業CT 缺陷檢測 Yxlon CC系列
CT系統
無論是大型電機缸體、大型鋼制部件還是復雜的電動汽車部件，Comet Yxlon UX50 CT 系統都能在創紀錄的時間內掃描具挑戰性的物品。UX50 在線和平板...
型號： UX系列所在地：德國參考價：面議更新時間：2025/6/6 12:36:01 對比

工業CT 缺陷檢查
CT系統
Comet Yxlon開發了CTScan 3線探測器陣列（LDA），以滿足客戶的特殊要求和具有挑戰性的應用。憑借其前未有的信噪比、動態范圍和 254 μm 的像...
型號： FF系列所在地：德國參考價：面議更新時間：2025/6/6 12:34:21 對比

缺陷檢查 CT掃描
光譜橢偏儀
UNECS系列是可以高速、高精度測量薄膜膜厚和折射率的分光橢偏儀。采用的測量方式，實現了高速測量和機體的小型化。我們的產品陣容包括便攜式，自動式和對應真空環境的...
型號： UNECS系列所在地：日本參考價：面議更新時間：2025/6/6 11:16:26 對比

橢偏儀手動型
激光橢圓儀
SE 401adv 通過映射高達 200 毫米的液體單元、用于原位測量的液體單元、攝像機、自動對焦、模擬軟件和經過認證的標準晶圓，可根據您的需求進行調整。
型號： SENTECH S... 所在地：德國參考價：面議更新時間：2025/6/6 10:51:40 對比

激光精密測量膜厚
光譜橢偏儀
SENTECH SER 800 PV光譜橢偏儀符合PERC、TOPCON、HJT和鈣鈦礦技術等新型太陽能電池技術的研發要求。它操作簡單，具有高測量靈敏度、去偏振...
型號： SENTECH S... 所在地：德國參考價：面議更新時間：2025/6/6 10:46:48 對比

橢偏儀
激光橢圓儀
多角度激光橢偏儀 SE 400adv PV 在 HeNe 激光波長為 632.8 nm 時，在紋理單晶和多晶硅片上提供抗反射單膜的膜厚度和折射率。可更換晶圓支架...
型號： SE 400adv... 所在地：德國參考價：面議更新時間：2025/6/6 10:37:02 對比

激光膜厚度折射率
自動光譜反射儀
SENTECH RM 1000 QC反射儀設計用于快速簡單地測量透明或吸收基材上的透明和半透明薄膜的厚度，用于工業生產過程中的質量控制。該工具涵蓋 20 nm ...
型號： SENTECH R... 所在地：德國參考價：面議更新時間：2025/6/6 10:32:51 對比

反射光譜
全自動薄膜質量控制
SENTECH SENDURO?MEMS 提供配置靈活性，以滿足生產控制和質量控制的要求。該工具可以配置反射法和橢圓偏振法中的μ點測量，以及提供準確測量位置的模...
型號： SENTECH S... 所在地：德國參考價：面議更新時間：2025/6/6 10:31:06 對比

質量控制測量
薄膜計量光譜儀軟件
SpectraRay/4 是 SENTECH 專有的光譜橢圓偏振儀軟件，包括橢圓、反射和透射數據的數據采集、建模、擬合和擴展報告。它支持可變角度、多實驗和組合光...
型號： SpectraRa... 所在地：德國參考價：面議更新時間：2025/6/6 10:16:43 對比

計量軟件偏振光譜

深圳市矢量科學儀器有限公司

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